<用途及特点>
·该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。
该冲击试验箱的最大特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。
标准配置:φ50测试孔盖个、照明灯一盏、记录仪一台;
选配部件:计算机通讯接口,工业Pc及控制软件;
试验方法标准:
GB2423.1-89试验A,
低温试验方法.
GB2423.2-89试验B,
高温试验方法
IEC68-2-1试验A
IEC68-2-2试验
BGJB1032-90环境应力筛选方法
型 号 |
DWC |
01 |
03 |
温度室范围 |
-60℃~+150℃(+200℃) |
低温室范围 |
-75℃~-10℃ |
温度冲击范围 |
-40℃~80℃ |
温度波动度 |
±0.5℃ |
温度均匀度 |
≤2℃ |
温度误差 |
±3℃ |
温度恢复时间 |
5min |
试验时间 |
≥30分钟 |
内空尺寸(mm) |
500×500×450 |
700×700×640 |
功率(KW) |
12 |
25 |
电源 |
380V 50Hz |