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DWC01温度冲击试验箱
温度冲击试验箱
<用途及特点>
·该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。
该冲击试验箱的最大特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。
标准配置:φ50测试孔盖个、照明灯一盏、记录仪一台;
选配部件:计算机通讯接口,工业Pc及控制软件;
 
试验方法标准:
GB2423.1-89试验A,
低温试验方法.
GB2423.2-89试验B,
高温试验方法
IEC68-2-1试验A
IEC68-2-2试验
BGJB1032-90环境应力筛选方法
型  号 DWC
01 03
温度室范围 -60℃~+150℃(+200℃)
低温室范围 -75℃~-10℃
温度冲击范围 -40℃~80℃
温度波动度 ±0.5℃
温度均匀度 ≤2℃
温度误差 ±3℃
温度恢复时间 5min
试验时间 ≥30分钟
内空尺寸(mm) 500×500×450 700×700×640
功率(KW) 12 25
电源 380V  50Hz

 

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